Московский государственный университет им.М.В.Ломоносова.

Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии и физики наноструктур кафедры квантовой электроники физического факультета.

Состав группы:
Панов Владимир Иванович - руководитель лаборатории, проф., д.ф.-м.н.
E-mail: spm@spmlab.phys.msu.su
Маслова Наталья Сергеевна - доцент, к.ф.-м.н.
Савинов Сергей Валентинович - с.н.с., к.ф.-м.н.
Орешкин Андрей Иванович - н.с., к.ф.-м.н.,
E-mail: medved@spmlab.phys.msu.su
Ежов Александр Анатольевич - м.н.с.,
E-mail: ejov@spmlab.phys.msu.su
Музыченко Дмитрий Анатольевич - м.н.с.
Орешкин Сергей Иванович - м.н.с.
Луховицкий Борис Иосифович - аспирант

Основные направления работ:
Низкотемпературная сканирующая туннельная микроскопия и спектроскопия поверхности полупроводников.
Сканирующая туннельная микроскопия чистых поверхностей полупроводников.
Атомно-силовая микроскопия субмикро- и наноструктур.
Изучение взаимодействия света с субмикро- и нанообъектами методами
сканирующей оптической микроскопии ближнего поля.

Рабочий инструмент:
Низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп/спектроскоп собственной разработки.
Установка для атомно-силовой микроскопии и сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (включая спектроскопию и поляриметрию) собственной разработки.
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп/спектроскоп собственной разработки.

Источники финансирования:
Работы ведутся при поддержке РФФИ, Министерства Науки России, а также в сотрудничестве с зарубежными учеными.

Контактное лицо:
Панов Владимир Иванович

Адрес: 119899 Москва, Воробьевы горы, МГУ, физический факультет,
кафедра квантовой электроники.
Телефон: (095) 9392502
Факс: (095) 9391104
E-mail: spm@spmlab.phys.msu.su

Публикации последних лет:

  1. P.I.Arseev and N.S.Maslova. Small size tunneling contact with
    superconductor //Sol. St. Comm., 1999, V.108, No.10, P.717-724.
  2. A.Depuydt, C.Van Haesendonck, N.S.Maslova, V.I.Panov, S.V.Savinov and
    P.I.Arseev. Scanning tunneling microscopy and spectroscopy at low temperatures of the (110) surface of Te-doped GaAs single crystals // Phys. Rev. B, 1999, V.60, No.4, P.2619-2625.
  3. N.S.Maslova, V.I.Panov, S.V.Savinov, A.Depuydt and C.Van Haesendonck. Charge structures interaction in low-temperature surface investigations // Phys. Low-Dim. Struct, 1999, V.5/6, P.169-174.
  4. A.I.Kalachev, I.B.Smirnov, V.P.Veiko, N.B.Voznessenski, E.B.Yakovlev,
    A.A.Ejov, D.A.Muzychenko and L.N.Kaporsky. Peculiarities of laser-assisted
    drawing-out processing of optical probes for SNOM // Computer-Controlled Microshaping, V.P.Veiko, T.Szoerenyi (eds.), Proc. SPIE, 1999, V.3822, P.199-206.
  5. Маслова Н.С., Панов В.И., Савинов С.В. Туннельная спектроскопия
    локализованных состояний на поверхности полупроводников // УФН, 2000, Т.170, С.575-578.
  6. Ежов А.А., Магницкий С.А., Музыченко Д.А., Панов В.И. Оптическая
    микроскопия ближнего поля элементов оптической памяти // Поверхность.
    Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, 7, С.43-46. Abstract.Описана конструкция СЗМ, используемого для изучения элементов оптической памяти и их тонкой структуры и позволяющего проводить исследования методами СОМБП и АСМ. Приведены параметры СЗМ и описана методика изготовления оптического зонда. Проведены измерения оптических параметров модельных объектов и продемонстрировано высокое оптическое пространственное разрешение СОМБП.
  7. Ежов А.А., Логгинов А.С., Музыченко Д.А., Николаев А.В., Панов В.И.
    Оптическая микроскопия ближнего поля пленок ферритов-гранатов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, 11, С.56-58.
    Abstract. Представлены результаты применения сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (СОМБП) для исследования эффекта Фарадея в пленках ферритов-гранатов. Измерено локальное распределение величины магнитного кругового двойного лучепреломления, полученное при анализе поляризации прошедшего через образец и собранного апертурным зондом излучения. Продемонстрированы возможности раздельного наблюдения методом СОМБП магнитных доменов с противоположными направлениями вектора намагниченности и доменных границ.
  8. Ежов А.А., Магницкий С.А., Музыченко Д.А., Панов В.И., Тарасишин А.В. Исследование локализации электромагнитного поля на периодических структурах и дефектах методом оптической микроскопии ближнего поля // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2000, 11, С.59-63.
    Abstract. Методом сканирующей оптической микроскопии ближнего поля (СОМБП) исследована пространственная локализация электромагнитного поля (ЭМП) на периодических и апериодических структурах. Изучено влияние поляризации зондирующего оптического излучения на изображение, получаемое с помощью СОМБП в режиме работы "на отражение".Теоретически, численным методом, основанным на прямом решении уравнений Максвелла, исследовано пространственное распределение ЭМП вблизи периодических структур. Проведено сравнение численных расчетов с экспериментальными данными. Изучено трехмерное распределение ЭМП вблизи субдлинноволнового отверстия в металлической пленке.
  9. N.S.Maslova, A.I.Oreshkin, V.I.Panov and S.A.Magnitskii. Light induced
    conformational transitions of individual molecules in ordered films // Sol.
    St. Comm., 2001, V.117, P.41-46.
  10. A.A.Ejov, D.A.Muzychenko and J.S.Toursynov. SNOM investigation of
    molecular luminescence and polarize properties of domain walls // Phys. Low-Dim.
    Struct., 2001, No.3/4, P.237-242.
  11. A.A.Kalachev, N.S.Maslova, A.I.Oreshkin, S.I.Oreshkin, S.V.Savinov and V.I.Panov. The influence of Coulomb interaction of localized charges on low temperature STS spectra of surface nanodefects // J. Phys.: Condens. Matt.,
    2001, No.13, P.3941-3948.