Институт Физики Твердого Тела и Полупроводников НАНБ

Основные направления работ группы:

1. Зондовая микроскопия тонких органических пленок (лазернонапыленные металлфталоцианины и полимерные композиты, ионно-легированные полимеры, пленки Ленгмюра-Блоджетт и др.)
2. Локальные фотоэлектрические измерения с помощью СТМ и резистивной микроскопии.
3. Зондовая микроскопия многослойных магнитных пленок с эффектом ГМС.
4. Зондовая микроскопия нанотрубок (начальная стадия работ).

Состав группы:
Стукалов Олег Михайлович, руководитель группы.
Кухаренко Людмила Валентиновна, к.ф.-м.н.

Основной рабочий инструмент: Фемтоскан-001,
Центр перспективных технологий МГУ, www.spm.genebee.msu.su

Информация о источниках финансирования работ: Работы проводятся в рамках российско-белорусского проекта БРФФИ-РФФИ (Ф99Р-129), государственных научных программ Республики Беларусь "Физика твердого тела", "Поверхность", "Кристалл".

Основные публикации последних лет:

1. Стукалов О.М., Мисевич A.В., Почтенный A.E., Галлямов M.O., Яминский И.В. Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди - полистирол//Поверхность, #12, 2000, в печати.
2. A.V. Misevich, A.E. Pochtenny, О.М. Stukalov, M.O. Gallyamov, I.V. Yaminsky//Atomic Force Microscopy of Sensor Films Containing Copper Phthalocyanine. Probe Microscopy, 2000, submitted.
   
   Abstaract.
   Thin films of copper phthalocyanine (CuPc) and of copper phthalocyanine - polystyrene composite (CuPc–PS) were prepared by laser evaporation in vacuum and annealed at 250 *C in air. Relative sensor responses of the films to nitrogen dioxide were compared. It was found that composite film 20wt% CuPC–PS has the highest relative sensor response. Atomic force microscopy (AFM) was applied to investigate the influence of annealing on the structure of films. The AFM topographic images allow to suggest that polymer matrix promotes recrystallization of CuPc under annealing at 200*C and higher, with formation of needle crystals. Annealing at 250*C results in evaporation of polymer matrix. Changes in sensor properties can be explained by the increase of active adsorption area of the film.
3. Pochtenny A.E., Misevich. A.V., Yaminsky I.V., Gallyamov M.O., Solonovich V.K., Stukalov O.M. Nanostructural sensor films of copper phthalocyanine and their polymer composites. In: Physics, Chemistry and Application of Nanostructures. Ed. V.E. Borisenko et al (World Scientific, Singapore, 1999), pp.242-245.

Контактное лицо: Стукалов Олег Михайлович.

Адрес: 220072, Минск, ул. П. Бровки 17. ИФТТП НАНБ.
Рабочий тел.: (017) 2841182
Факс: (017) 2840888
E-mail: nanom@ifttp.bas-net.by