Russian Society of Scanning Probe Microscopy and Nanotechnology

МУЗЕЙ
СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
И НАНОТЕХНОЛОГИИ

Зондовая микроскопия в России - победители конкурсов на лучшие работы, выполненные с применением приборов фирмы NT-MDT.

Организаторы Музея заранее приносят свои извинения за неполноту экспозиции и просят посетителей Музея присылать свои замечания и экспонаты.

Администрация.

Основные этапы развития Сканирующей Зондовой Микроскопии.

Трубчатый сканер.

Существенное упрощение конструкции и улучшение функциональных характеристик было достигнуто применением трубчатого сканера (G. Binnig, D.P.E. Smith. Rev. Sci. Instrum. 57 (8), 1986, 1688-1689.Full text, Abstr.)до сих пор остающегося основным типом сканеров.

Fig 1. Drowing of a tube scanner showing the outside electrode sectuoned into four equal areas parallel to the axis of the tube. As voltage is applied to a single outside electrode the tube bends away from that electrode. Voltage applied to the inside electrode causes a uniform elongation. A small ac signal and a large dc offset can be sepatated on electrodes 180^o apart. A probe tip is shown mounted for an STM.

Пиролитический графит.

	Роль высокоориентированного пиролитического графита, введенного в исследовательский обиход Sang-II Park и C.F. Quate (Appl. Phys. Lett. 48 (2), 1986, 112-114. Full text. Abstr.) в развитии зондовой микроскопии переоценить просто невозможно. Возможность сравнительно просто, в атомосферных условиях получать на нем атомарное разрешение, сделали его, пожалуй, наболее распространенным материалом туннельной микроскопии. Области его применения самые широкие: с его помощью делаются первые шаги при изучении методов зондовой микроскопии, это удобные калибровочные структуры, атомарно гладкие подложки для нанесения чего угодно, прекрасный модельный материал для теоретических изысканий и т.д. и т.п. На фотографии представлено одно из наиболее ранних СТМ изображений графита, размер скана 20х20 А.

Атомно-силовой микроскоп.

Существенным ограничением сканирующей туннельной микроскопии было требование электрической проводимости исследуемых образцов.С изобретением сканирующего силового микроскопа Binnig'ом, Quate'ом и Gerber'ом (Phys.Rev.Lett.56,1986,930-933.Full text. Abstr.) исследованиям методами сканирующей зондовой микроскопии стало доступно практически все - вплоть до исследований структуры белка в жидких средах.

Ближнепольный оптический микроскоп.

Существенный вклад внесла сканирующая туннельная микроскопия и в развитие ближнепольной оптической микроскопии. Ниже приводится структурная схема ближнепольного микроскопа, в котором для поддержания зазора зонд-подложка используется туннельный ток.( Durig U., D. W. Pohl, F. Rohner.Near-field optical-scanning microscopy.J. Appl. Phys.59 (10).1986. 3318-3327. Full text. Abstr. ).